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1980年代台湾资讯产业正值蓬勃起飞之际,致茂电子以本土厂商的角色出发,站稳脚步并开始茁壮;在稳健成长逐渐扩大规模的步伐中,一直将全球化经营视为必然的策略之一。当公司即将迈入个十年之际,营
中茂电子(深圳)有限公司的专利信息
序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
1 | CN201399434Y | 一种节流式分离设备 | 2010.02.10 | 本实用新型适用于太阳能裸芯片基板或者太阳能电池基板等对象的制造领域,提供了一种节流式分离设备,利用容 |
2 | CN201188427Y | 太阳能硅芯片检测机台输送装置的导正器及该输送装置 | 2009.01.28 | 本实用新型公开了一种太阳能硅芯片检测机台输送装置的导正器,其特征是,该导正器包括两组导引件和致动件, |
3 | CN201188428Y | 太阳能硅芯片检测机台用斜向挡止及分类装置 | 2009.01.28 | 本实用新型公开了一种太阳能硅芯片检测机台用斜向挡止,太阳能硅芯片检测机台包括基座、设置于基座并沿着一 |
4 | CN100585677C | 低电压差动信号的传输通道数转换系统与转换传输方法 | 2010.01.27 | 本发明提供一种低电压差动信号的传输通道数转换系统与转换传输方法,该系统包括:控制模块;图像来源装置; |
5 | CN101599703A | 三相电源转换为单相电压输出的方法及交流电源供应器 | 2009.12.09 | 本发明适用于电源技术领域,提供了一种三相电源转换为单相电压输出的方法以及交流电源供应器,所述的方法包 |
6 | CN201259462Y | 一种具有导电接触端部的夹持装置 | 2009.06.17 | 本实用新型适用于测试技术领域,提供了一种具有导电接触端部的夹持装置,该夹持装置设置在一个基板上,且该 |
7 | CN201464157U | 一种具有可挠式拉门的检测机台 | 2010.05.12 | 本实用新型适用于检测技术领域,提供了一种具有可挠式拉门的检测机台,该检测机台具有一基座,在基座上方设 |
8 | CN201466050U | 一种拨刷脱离设备 | 2010.05.12 | 本实用新型适用于太阳能电池制造领域,提供了一种拨刷脱离设备,当取出层状堆叠的复数个对象中至少一对象时 |
9 | CN201464162U | 检测头设置有光电转换器的光棒检测机台 | 2010.05.12 | 本实用新型适用于光棒检测技术领域,提供了一种检测头设置有光电转换器的光棒检测机台,该检测机台包含:一 |
10 | CN101345623B | 具有认证功能的控制系统及方法 | 2010.11.10 | 一种具有认证功能的控制系统,目的是保护发明人所开发的程序以及设备,该控制系统包括一第一装置以及一第二 |
11 | CN101504328B | 太阳能电池光接收装置及具有该装置的全光通量检测系统 | 2013.08.28 | 本发明是利用一组太阳能电池作为光接收装置,妥善利用其价格适宜、且所需空间比积分球小而利于设置;更因其 |
12 | CN101648186B | 具承载装置搬移装置的太阳能晶圆分类系统 | 2013.05.15 | 本发明公开了一种具承载装置搬移装置的太阳能晶圆分类系统,该分类系统包含:形成有复数承载位置的基座;设 |
13 | CN101758034B | 自动化系统以及自动化系统中的分料置料设备 | 2013.04.10 | 本发明涉及一种自动化系统以及高效率空间利用的分料置料设备,分料置料设备于该自动化系统中,用以将多个受 |
14 | CN102159957B | 具有太阳能电池组的发光元件检测机台及其检测方法 | 2013.04.10 | 本发明是可以太阳能电池组供批次检测诸如发光二极管晶粒、发光二极管元件或具有发光二极管晶粒的光棒等等进 |
15 | CN101846710B | 待测物的接触检查系统 | 2012.12.19 | 本发明公开了一种待测物的接触检查系统,该待测物是电性耦合在一漏电流测试电路,该接触检查系统包括一交流 |
16 | CN101870380B | 一种光学元件保护方法以及光学元件贴膜设备 | 2012.10.10 | 本发明适用于光学元件制造技术领域,提供了一种光学元件保护方法以及光学元件贴膜设备,该光学元件保护方法 |
17 | CN101726404B | 具有多个发光元件的发光组件的检测机台及其检测方法 | 2012.10.10 | 本发明是利用一组装配于机台基座的承载致能装置,承载并致能待测发光组件;再以一组移动装置驱动承载致能装 |
18 | CN101676040B | 用以分类太阳能电池的光学检测系统以及方法 | 2012.09.19 | 一种用以分类太阳能电池的光学检测系统以及方法,依样本数据对太阳能电池进行颜色分类,以光源设备照射太阳 |
19 | CN101858940B | 输出阻抗测量方法及装置 | 2012.09.19 | 一种输出阻抗测量装置及方法,用以测量一待测主动元件的输出阻抗,其包含:一可控制电流单元,通过改变其内 |
20 | CN101603988B | 太阳能电池内部串联电阻测量方法及测量系统 | 2012.08.22 | 本发明公开一种太阳能电池内部串联电阻测量方法及测量系统,通过逆向输入电流至该太阳能电池,借以取代一般 |
21 | CN101349725B | 一种模块化扫描工具及其进行检测的方法 | 2012.05.30 | 本发明提供了一种模块化扫描工具,用于辅助至少一测量装置对待测物进行测量,所述的模块化扫描工具包含:至 |
22 | CN101504491B | 电路装置与基板接合用光学对位装置及具有该装置的系统 | 2012.04.11 | 一种电路装置与基板接合用光学对位装置及具有该装置的系统,供将电路装置精密对位接合至与电路装置间留有高 |
23 | CN101676696B | 检测太阳能电池前期确认对比样本的光学检测系统及方法 | 2012.04.04 | 一种于检测太阳能电池前期确认对比样本的光学检测系统以及方法,该方法包括:分析多数个样本太阳能电池的光 |
24 | CN101685034B | 发光元件发光亮度检测方法、装置及检测机台 | 2012.02.01 | 本发明揭示一种发光元件发光亮度检测方法,该方法包含下列步骤:a)致能该发光元件发光;b)由该处理装置 |
25 | CN101599703B | 三相电源转换为单相电压输出的方法及交流电源供应器 | 2012.01.04 | 本发明适用于电源技术领域,提供了一种三相电源转换为单相电压输出的方法以及交流电源供应器,所述的方法包 |
26 | CN101312030B | 采用可编程逻辑闸阵列实现视频信号源产生装置 | 2011.12.07 | 一种采用可编程逻辑闸阵列实现视频信号源产生装置,由总线单元、第一索引值产生器、第二索引值产生器、组合 |
27 | CN101740440B | 电路元件承载盘供输和堆叠系统 | 2011.11.09 | 本发明适用于检测技术领域,提供了一种电路元件承载盘供输和堆叠系统,用来堆叠置放复数个承载电路元件的承 |
28 | CN101281462B | 报表产生系统及报表产生方法 | 2011.09.21 | 本发明提供一种报表产生系统及报表产生方法,报表包含表格以及填入表格中的数据。报表产生方法包括如下步骤 |
29 | CN101477834B | 集成电路数字编码的写入方法及系统 | 2011.09.07 | 一种集成电路数字编码的写入方法,用以将数字编码(rolling code)写入至集成电路,写入方法至 |
30 | CN102159957A | 具有太阳能电池组的发光元件检测机台及其检测方法 | 2011.08.17 | 一种具有太阳能电池组的发光元件检测机台包括一个容纳具有多个待测发光元件(70)的发光组件(7)并分别 |
31 | CN101581742B | 一种具有接触阻抗检测装置的检测机台 | 2011.07.20 | 本发明适用于电路组件测试技术领域,提供了一种具有接触阻抗检测装置的检测机台,用来检测一种待测试电路组 |
32 | CN101650374B | 具变温装置的半导体组件测试座及测试机台 | 2011.07.20 | 本发明公开了一种具变温装置的半导体组件测试座,半导体组件具有形成有复数脚位的导接面及相反于该导接面的 |
33 | CN101413977B | 一种高压测量装置 | 2011.06.15 | 本发明提供了一种高压测量装置,用来对待测试物品进行高压测试,所述的高压测量装置包括:基频产生电路,用 |
34 | CN101344430B | 可同时感测发光强度与色度的高速光学感测装置与系统 | 2011.06.01 | 一种高速光学感测装置,用以测量一具有多个发光二极管的发光二极体光棒上其中的一待测发光二极管的发光强度 |
35 | CN101515750B | 电源供应器的电流准位变化保护控制装置 | 2011.05.25 | 本发明为一种电源供应器的电流准位变化保护控制装置,是应用在电源供应器上,包含有电压积分单元、电流积分 |
36 | CN101556298B | 整流性被动式负载仿真装置及方法 | 2011.04.13 | 一种整流性被动式负载仿真装置及方法,该装置及方法用以测试一电源产品的性能。该仿真装置包括一模拟数字转 |
37 | CN101498753B | 可根据待测物阻抗调整操作频宽的负载装置与调整方法 | 2011.04.13 | 本发明是一种可根据待测物阻抗调整操作频宽的负载装置与调整方法,所述的可根据待测物阻抗调整操作频宽的负 |
38 | CN101676712B | 光学检测系统以及方法 | 2011.03.23 | 一种光学检测系统以及方法,以阴影检测如太阳能电池的待测物上的凸起瑕疵,以一斜向光线照射待测物来测得待 |
39 | CN101515000B | 电流量测精准度提升的方法及其装置 | 2011.03.09 | 本发明提出一种电流量测精准度提升的方法及其装置,利用一个分流器作为量测仪器的电流量测稳定,通过设计一 |
40 | CN101567405B | 太阳能硅芯片检测机台和检测方法 | 2011.02.16 | 本发明公开了一种太阳能硅芯片检测机台,用于逐片检测太阳能硅芯片,且前述受测硅芯片均具有彼此相反、且分 |
41 | CN101359038B | 可模拟LED特性的电子负载装置及其模拟方法 | 2011.02.02 | 本发明是关于一种电子负载装置,适用于模拟发光二极管(LED)对电源供应器进行电力测试,该负载装置包括 |
42 | CN101583050B | 快速自动化色温调整方法及系统 | 2011.01.19 | 本发明提供一种快速自动化色温调整方法及系统,该方法包括:设定具有第一亮度值、第一色彩信息的第一白色画 |
43 | CN101581625B | 一种具有光学回馈装置的检测机台 | 2011.01.12 | 本发明适用于检测技术领域,提供了一种具有光学回馈装置的检测机台,用来检测一种发光电路组件的发光特性, |
44 | CN101452025B | 一种浮接式高电压高电流同步测量的方法及装置 | 2011.01.12 | 本发明提供了一种浮接式高电压高电流同步测量的方法及装置,包括一微处理控制单元、一电压输出单元、一电流 |
45 | CN101210951B | 内建光源的光传感器检测装置及具该装置的测试机台 | 2010.12.22 | 本发明公开了一种内建光源的光传感器检测装置,其具有一基座及一设于该基座上的上盖,在该上盖设有至少一发 |
46 | CN101870380A | 一种光学元件保护方法以及光学元件贴膜设备 | 2010.10.27 | 本发明适用于光学元件制造技术领域,提供了一种光学元件保护方法以及光学元件贴膜设备,该光学元件保护方法 |
47 | CN101464695B | 一种内含多组隔离型温控检测单元的装置 | 2010.10.27 | 本发明提供了一种内含多组隔离型温控检测单元的装置,所述的装置包括:第一隔离型温控检测单元、第二隔离型 |
48 | CN101858940A | 输出阻抗测量方法及装置 | 2010.10.13 | 一种输出阻抗测量装置及方法,用以测量一待测主动元件的输出阻抗,其包含:一可控制电流单元,通过改变其内 |
49 | CN101846710A | 待测物的接触检查系统 | 2010.09.29 | 本发明公开了一种待测物的接触检查系统,该待测物是电性耦合在一漏电流测试电路,该接触检查系统包括一交流 |
50 | CN101830356A | 抵触式分离设备 | 2010.09.15 | 一种抵触式分离设备,利用容置装置收容层状堆栈的多个对象,所述对象例如为太阳能裸芯片基板或太阳能电池基 |
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